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毁掉中国“芯”希望的罪魁祸首：至今逍遥法外

调查显示，陈进在负责研制“汉芯”系列芯片过程中存在严重的造假和欺骗行为，以虚假科研成果欺骗了鉴定专家、上海交大、研究团队、地方政府和中央有关部委，欺骗了媒体和公众。

上海交大决定，撤销陈进上海交大微电子学院院长职务；撤销陈进的教授职务任职资格，解除其教授聘用合同。

科技部根据专家调查组的调查结论和国家科技计划管理有关规定，已决定终止陈进负责的科研项目的执行，追缴相关经费，取消陈进以后承担国家科技计划课题的资格；

教育部决定撤销陈进“长江学者”称号，取消其享受政府特殊津贴的资格，追缴相应拨款；

国家发展改革委决定终止陈进负责的高技术产业化项目的执行，追缴相关经费。

尽管事件涉及巨额国家科研经费流失，上海交大的处理决定中只字未提事件责任人，尤其是始作俑者陈进本人应负怎样的法律责任。

2006年年末，还有记者专门去向国家有关部委求证，结果是确实没有任何相关责任人因汉芯造假案而受到法律追究。

有一种声音指出，这种规模的造假都不是一个人能搞出来的，而很可能是一个体系在造假。

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